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大島 明博*; 池田 重利*; 工藤 久明; 瀬口 忠男; 田畑 米穂*
Radiation Physics and Chemistry, 50(6), p.611 - 615, 1997/00
被引用回数：60 パーセンタイル：95.92(Chemistry, Physical)ポリテトラフルオロエチレン(PTFE)の放射線照射効果の温度依存性について実験を行った。示差走査熱分析計を用い、結晶化の熱量(
Hc)を測定した。「諏訪の関係式」を用いて分子量(Mn)を算出した。この分子量の変化を基に、分解のG値の温度依存性を導出した。さらに結晶融点での架橋のG値についても推定した。
田畑 米穂*; 大島 明博*; 高鹿 和信*; 瀬口 忠男
Radiation Physics and Chemistry, 48(5), p.563 - 568, 1996/00
ポリテトラフルオロエチレンとポリスチレンの放射線照射効果に及ぼす温度依存性について調べた。ポリテトラフルオロエチレンは、融点直上で架橋するが、融点以下の温度では主鎖切断を起こす。しかし、77Kの極低温では、その切断は抑制される。一方、ポリスチレンは、室温照射では効果的に架橋するが、ガラス転移点異常の温度での照射では、切断が支配的になる。また、アタクテックとシンジオタクテックの構造の違いによりその照射効果は異なるとともに、結晶や非晶の違いにおいても照射効果の違いを観察した。
瀬口 忠男
放射線と産業, 0(58), p.31 - 35, 1993/00
高分子に対する放射線照射効果、特にポリエチレンの架橋と分子鎖切断について、課題を解説した。パラフィンの照射効果を基に、ポリエチレンで起こりうる反応機構を推論した。
瀬口 忠男
Radiation Effects on Polymers, p.442 - 456, 1991/00
ポリエチレン及びエチレンプロピレン共重合体のモデル化合物として、n-パラフィンとスクワランを選び、
線照射効果を解明した。放射線架橋及び分子鎖切断の確率を正確に求めるとともに、反応の起る部位についても明らかにした。また、結晶性との関係、照射温度の効果に関する知見を得た。これらを総合して、反応機構を提案した。
貴家 恒男; 萩原 幸
Polymer, 28(10), p.1915 - 1921, 1987/10
芳香族ポリサルフォン(PES,U-PS)、ポリエステル(U-Polymer)、ポリアミド(A-Film)、ポリエーテル・エーテル・ケトン(PEEK)についての酸化雰囲気での照射効果の検討を行った。空気中・線線量率10KGY/hで照射した場合、比較的低線量(短期間)で劣化するPES,U-PS,U-Polymerは高線量率の電子線照射の場合とほとんど同じ劣化挙動を示したが、A-Film,PEEKでは高線領域で急激な劣化を起した。これは酸化層の厚さが長時間照射で内部まで拡大するためと結論した。酸素加圧照射の場合はすべてのポリマーは高線量率電子線照射の場合の1/5~1/10の線量で劣化した。ポリマー内部まで放射線酸化が起きたためである。酸素加圧下で照射したPEEKについて、動的粘弾性測定を行った。線量と共にガラス転移温度が低下すること、結晶化に帰因する
'分散ピークは低温に移動しつつ、その強度を増加することから、酸化雰囲気照射では主鎖切断のみで劣化すると結論した。
-ray irradiated polymer insulation materials瀬口 忠男; 山本 康彰*
JAERI 1299, 64 Pages, 1986/03
高分子材料の低線量率放射線劣化の促進劣化条件を決めるための必要なパラメーターである高分子材料への酸素の拡散と溶解を測定する方法を開発した。この方法によって多数の高分子材料について、種々の条件における拡散系数(D)と溶解度(S)係数および拡散の活性化エネルギー(OE)を求めた。このレポートはこれらの測定結果をまとめたデータ集である。DとSは純粋の高分子では照射によって低下し、特に放射線酸化の場合に著しい。しかし、配合した高分子材料では照射効果が小さくなり、放射線酸化のの条件で100Mrad照射後でも低下は極めて少なくなる。Eは高分子の種類に依存するが、配合や照射によってほとんど変化しない。
貴家 恒男; 萩原 幸
Polymer, 27, p.821 - 826, 1986/00
被引用回数：49 パーセンタイル：89.59(Polymer Science)結晶性のポリエーテル・エーテル・ケトンPEEKの分子運動性の検討、および電子線照射による分子運動性の変化を検討し、損傷機構の解明を行った。ガラス転移に関係する
分散ピークの高温への移動、分散域での剛性率の変化から、電子線照射により架橋が生成すること、照射によって新たな分散('分散)が現れることから、同時に主鎖切断も起きていることが明らかとなった。低温の分散挙動の照射による変化から、照射により結晶~非晶界面に存在する分子鎖が損傷していることがわかった。結晶性PEEKが非晶性PEEKに比べて耐放射性が劣るのは非晶~結晶内の tie-molecule が損傷を受けるためと結論した。
瀬口 忠男; 早川 直宏; 吉田 健三; 田村 直幸; 勝村 庸介*; 田畑 米穂*
Radiation Physics and Chemistry, 26(2), p.221 - 225, 1985/00
高分子材料に対する高速中性子の照射効果を、ポリエチレン、エチレンプロピレンゴム、テトラフルオルエチレンプロピレンゴムについて、架橋および切断の数を測定して検討した。Co-60線と比較したところ、ゲル分率、膨潤比の変化は全く同じ結果を与え、架橋の数や密度分布に差のないことがわかった。高速中性子とCo-60線では、Linear Energy Tranofer(LET)が200倍異なることが知られているが、この大きなLETの差がPE,EPR,TFEPの架橋に反映されない理由を考察した。
D.I.C.Kells*; 小池 満; J.E.Guillet*
Journal of Polymer Science, Part A-1, 6, p.595 - 601, 1968/00
抄録なし
